随着国内电子科技企业逐步进行 PCIe Gen 5 以及 CXL 相关产品的涉及研发，如芯片，模块，插卡，系统等等，针对 PCIe 5.0 总线的问题诊断分析和测试工具对企业来讲也变得尤为重要。

近日，Saniffer公司发布了【PCIe 5.0, cxl, nvme, nand, ddr5, ufs4测试技术和工具白皮书ver 8.0】，文件共902页，文中涉及的产品广泛适用于当前国内从事计算、网络、存储、SSD、AI、ML/DL、大数据、GPU/DPU/MaPU等数据加速产品，SmartNIC，移动通讯，嵌入式系统设计，汽车电子等诸多领域的PCIe Gen 5高速总线的开发和测试过程中。

此白皮书可供在校学生或专业从事研发、测试工作的工程师们查阅学习使用。（关注迈硕官方公众号，回复关键词“白皮书8.0”即可下载）  

此书内容主要包括并不限于PCIe Gen 5.0协议分析，底层故障注入，热插拔测试，电压拉偏&功耗测试，电压/电流/功耗/sideband等信号的长时间监测和回溯分析，掉电测试，性能/功能/协议兼容性/InterOp测试，高低温测试，以及如何构建PCIe Gen 5测试环境，从主板和Host Card选型开始，涉及各类PCIe接口（AIC, M.2, U.2, U.3, E1.S, E1.L, E3.S, E3.L, Cable接口如MCIO, MINI-SAS-HD, SLIM-SAS, OCULINK等）的端口扩展，各种常用的主机卡，转接卡，盘柜，延长线的选择等，以及考虑到测试便利性使用的主板托架和实验室批量测试机架等解决方案。

此版本白皮书较之前的7.0的基础上做了较大更新，具体目录如下：

01：开放实验室的PCIE/SAS/SATA协议分析、SSD测试设备和测试环境介绍，并提供近几年相关技术讲座和培训视频录像等资料。

02：PCIe Gen4&5协议分析面临的技术挑战、架构设计、创新功能、分析仪的连接方式、产品硬件、SerialTek BusXpert 软件功能等分析和介绍。

03：PCle Gen 4&5 NVMe SSD研发测试工具介绍，包含VDM,ZNS，SRIS,TCG,双端口,DSSD.CMB/HMB/T10 DIF DIX 测试、NVMe 预封装测试脚本等内容，测试脚本涵盖 13 大类测试,~1000 个测试用例。

04：介绍PCle Gen 4&5 NVMe SSD 故障注入/热插拔和电压拉偏/功耗测试等多项测试，还有针对Quarch功耗性能进行测试比拼等内容。

05：搭建PCle Gen4/5 NVMe SSD 测试环境必备的产品（一）：包含主机卡，盘柜，转接卡，转接线，延长线等。

06：搭建PCle Gen4/5 NVMe SSD 测试环境必备的产品（二）：主要介绍了PCle Gen5 测试主机和 Gen5 SSD 选择，包含了Inter和AMD架构平台，以及M.2/U.2 Gen 4 NVMe SSD 的测试端口拓展。

07：主要针对面向 SSD 开发的 NAND 特性分析设备、NAND 颗粒筛选析设备，以及电路和协议分析工具、NAND 数据读取、测试工装、DDR5 测试设备等多项测试工具和夹具的详细介绍。

08：SSD Test Chamber 测试温箱的功能简介、产品外形以及软硬件测试示例等内容介绍。         

09：PCle Gen 4&5 SSD 测试主板托架和实验室使用的机架外形及规格介绍。

10：UFS 4.0和 SD/eMMC 51 协议分析仪的产品概述、特征、规格等详细内容介绍。

11：提供了关于PCle 和 NVMe 协议的各种基础知识和过程分析，包含PCIe协议底层杂谈、各种接口的区别、CXL技术基础和应用场景等内容。

12：收集了实验室常用的 PCle Gen 5 主机卡，转接卡和延长线图解，包含了图片，型号，描述等，方便日常查询使用。

该白皮书pdf文件大小78M，需要的朋友，可以关注成都迈硕电气公众号，回复“白皮书8.0”下载。